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HIOKI阻抗分析仪对功能性高分子电容的特性检查

1台仪器可连续测量聚合体电容、导电性高分子电解电容、导电性高分子钽电容等低台仪器可连续测量聚合体电容、导电性高分子电解电容、导电性高分子钽电容等低ESR、静电容量。

要点

· 使用阻抗分析仪IM3570的LCR模式,连续进行120Hz下的C-D测量,100kHz下的ESR测量。
· ESR测量使用低阻抗高精度模式。可进行改善后的低阻抗测量反复精度。通过使用4端子的接触检查功能(仅开路检查),可实现更加准确的测量。
· 使用比较功能,分别判断C-D和ESR。
· 连续测量中的测量频率的切换等待时间缩短至 1ms,实现高速测量。

使用仪器

阻抗分析仪:IM3570
4端子探头L2000

※ 记载的内容是根据2010年7月发行的仪器型号。产品参数可能会有更改,请以现在发行的为准。

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