日置RM3545电阻计4端子法测量导电性材料的体积电阻率和表面电阻率

日置电阻计RM3545使用4端子法测量体积电阻率、表面电阻率和电导率。

要点

4端子法是指使用4针探头，从通过4端子法测得的电阻值中，算出体积电阻率、表面电阻率（薄层电阻）的方法。
电阻计RM3545通过4针探头和PC应用软件能够实现4端子测量。

● 有两种类型的4探针，针间距1.5mm和针距5.0mm。
● 测量单元包括体积电阻率、表面电阻率和电导率。可以选择电阻值作为参考值。
● 从输入样本的尺寸和测量坐标位置中也会显示算出的补偿系数。
● 测量模式符合JIS K 7194 *标准（使用5.0mm夹型探头时）。
● 便利性，例如探测位置的向导显示，测量历史的显示，测量结果的CSV输出等。
● 以基本精度0.006%，最高分辨率0.01μΩ（RM3545的参数）来测量低电阻值。从而获得高精度的体积电阻率。

注意事项：4探针探头是特注品。购买时请邮件info@hioki.com.cn咨询。

使用仪器

电阻计 RM3545
4探针探头（针间距5.0mm）
4探针探头（针间距1.5mm）

※ 记载的内容是根据2018年2月的情况。产品参数可能会有更改，请以现在发行的为准。