电阻计RM3545使用4端子法测量导电性材料的体积电阻率和表面电阻率

使用4端子法测量导电性材料的体积电阻率、表面电阻率和电导率。

要点

•4端子法是指使用4针探头，从运用4端子法测到的电阻值中求出体积电阻率、表面电阻率（薄层电阻）。使用电阻计RM3545、4针探头和PC应用软件实现4端子测量。
•4针探头有两种，针距1.5mm和5.0mm。
•测量单位为体积电阻率、表面电阻率和电导率。也可以作为参考值来选择电阻值。
•从输入的测试样品的尺寸和坐标，还能显示所计算补偿系数。 •装有符合JIS K 7194标准的测量模式（使用5.0mm针探头时）
※关于标准的详细内容请另外咨询。
•具备探测位置的引导显示，测量历史的显示，测量结果的CSV输出等应用程序特有的便利性。
•以基本精度0.006%，最高分辨率0.01μΩ（RM3545的参数）来测量低电阻值。从而导出高精度的体积电阻率。

使用仪器

电阻计RM3545
4探针探头（间距5.0mm）
4探针探头（间距1.5mm）

※记载的内容是根据 2018年2月发行的仪器型号。可能在产品款式上有更改，请以现在发行的为准。