LCR测试仪3535

产品详情

LCR测试仪3535测试|Z|, L, C, R
测试源频率100kHz～120MHz
高速测量: 6ms
拆卸式前置放大器可选择
为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
3535LCR测试仪通过I/O接口可从外部控制触发、键盘锁开/关、以及测量条件的装载。而且比较结果、测量完成等可以输出，可应用于自动化生产线。
LCR测试仪HIOKI 3535标准配置了RS-232C和GP-IB接口，除了电源ON/OFF以外，其它功能都可以由计算机来实现控制。
RS-232C接口:
传输方式: 通信方式: 全双工，同期方式: 启停式传输
传输速度: 9,600、19,200bps数据长度: 8位
奇偶特性: 无
停止位: 1位
符号: CR+LF、CR
跟踪控制: 无
连接方法: D-sub9pin插入式、反向连接
LCR测试仪3535 GP-IB接口:
标准规格: IEEE-488.1 1987
可使用IEEE-488.2 1987的共同指令
日置HIOKI 3535LCR测试仪技术参数：

测量参数

|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)

前置放大器
决定的测量量程

前置放大器	9700-01	9700-02	9700-03
Z和R	100mΩ～1kΩ	500Ω～10kΩ	5kΩ～100kΩ
C	1.33pF～15.9μF	0.133pF～3.18nF	0.1pF～318pF
L	1nH～1.59mH	663nH～15.9mH	6.63μH～159mH
θ	-180.00°～180.00°

测量频率

量程	100kHz～120MHz
分辨率设置	4位（使用前控制板设置）
100.0kHz～1.000MHz	100Hz幅度
1.000MHz～10.00MHz	1kHz幅度
10.00MHz～100.0MHz	10kHz幅度
100.0MHz～120.0MHz	100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口时，分辨率为1Hz。
精度	最大± 0.005%，相对于设置值

测量电平

开路接口电压（V）和恒压（CV）模式	5mV～1V,最大20mA(10.000MHz以下) 5mV～500mV,最大10mA（10.01MHz以上）
分辨率	1mV幅度
精度	±（5%+5mV）×(2+log f)(f为MHz数)
恒流（CC）模式	200μA～20mA,最大1V（10.00MHz以下） 200μA～10mA,最大0.5V（10.01MHz以上）
分辨率	10A幅度
精度	±（10%+50μA）× (2+log f)(f为MHz数)

基本精度

Z：± 0.5%rdg. θ：± 0.3°

输出阻抗

50Ω ± 10Ω（100kHz时）

监视

电压0.000V～1.000V
电流0.000mA～20.0mA

限制

电压（设置为CC）0.005V～1.000V
电流(设置为V或CV) 0.20mA～20.00mA

平均

关，2，4，8，16，32，64

触发

内置触发器，外置触发器
触发延时0.01s～9.99s；0.01s分辨率

比较

可得到两组测量参数：百分比，△%，或绝对值设置（△%即显示测量值与标准值的偏差）

控制盘存储和调用

最多30组

屏幕显示

测量值和比较器的判断结果

显示线数

可设置成3，4，或5；根据参数可能有所不同

打印

拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）

接口

GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)

操作环境

10～40°C，最大80%rh，无凝结

仓储环境

-10～55°C，最大80%rh，无凝结

供电电源

交流100V～240V，50/60Hz，约50VA

体积及重量

约360宽×130高×360厚（mm）；8.3kg

LCR测试仪HIOKI 3535选件：
9700-10 前置放大单元：测量范围: 100mΩ～300kΩ
9677 SMD测试冶具：侧面SMD 电极;工作频率: DC～120MHz,测量对象尺寸: 3.5±0.5mm, 与3535组合使用时，无CE标记
9699 SMD测试冶具：底部SMD电极,工作频率: DC～120MHz,测量对象尺寸: 宽1.0～4.0mm, 高1.5mm以下
9678 连接电缆:电缆长: 2m
9151-02 GP-IB连接电缆:2m 长

HIOKI 3535LCR测试仪测量原理:利用数字控制的自动平衡电桥回路
从第1振荡器产生测量信号，外加于样品(DUT)，测量LOW端口电压，在其变为平衡状态(LOW端口电压0V)时，控制第2振荡器的相位和振幅。从变为平衡状态后的第2振荡器的相位和振幅，获得DUT的阻抗Z和相位角θ。
LCR测试仪HIOKI 3535为100kHz~120MHz的宽频量程且价位低。具有6ms高速测定的内置比较器和负载补偿、BIN(分类)测量功能，应用范围广，例如芯片互感、高速磁头测试以及其他相关研发需求。可将前置放大器与3535拆离，使用指定电缆将其延伸，并尽可能接近被测物，以减小测量导线的影响。简易的操作和低廉的价格，赋予这些元器件测试仪器出众的性价比。无论是用于实验室评估运行特性，还是用于生产线，都是您的理想选择。
宽频测量范围
测量频率100kHz~120MHz，以4位分辨率进行设置。
最快6ms高速测量
4种采样速度可供选择:FAST/NORMAL/SLOW/SLOW2。最快约为6ms(显示|Z|时)，为提高生产线效率提供快速采样。(测量频率视测量参数的不同而不同)。
14种测量参数
可测量以下参数，也可使用计算机捕捉必要的参数。|Z|，|Y|，θ，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，Lp，Ls，Cp，Cs，D(tanδ)和Q。
测量的同时进行测量条件的调整
测量频率、信号电平等测量条件，可在监视测量值的同时进行更改，所以可有效发挥于事前测量、评估标准等设置。
测量值的存储
主机可存储200组测量值。保存数据可一次传输到计算机或打印出来。
放大显示功能
最多4组参数可放大显示，便于生产线或其它距显示有一定距离的情况下观察测量值。
打印输出
使用选件9442打印机，测量值、比较结果和屏幕数据可打印输出。
BIN(分类)测量
2种测量最多使用10组分类，利用测量值可以很容易地进行分类。
连续测量
可存储30组测量条件。从中最大可连续测量保存于屏幕的5组测量条件。使用比较器功能时，使用1台、并通过一系列的操作，可获得这些条件的AND输出。
负载补偿功能
测量用于基准参考的样品，可补偿测量值。用此功能可调和各仪器间的测量值。
存储30组测量条件
利用可存储30组包括比较值在内的测量条件的功能，为随时更换的样品检测的反复测量生产线，提供快速响应。
同时测量4种参数
可选择任何4种参数同时测量并显示。
相关补偿功能
可设置以下补偿系数a和b，达到对测量值的补偿。补偿值=a×测量值+b