COULOSCOPE CMS电解测厚仪

     

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    COULOSCOPE CMS电解测厚仪

    使用库伦法测量几乎所有金属镀层厚度,无论基材是金属或非金属,无论镀层结构是单镀层还是多镀层。

    COULOSCOPE CMS电解测厚仪特点

    库仑析法电解镀层,符合 DIN EN ISO 2177标准
    V18测量台通过控制气泵具有自动充填和清空测量槽中电解液功能
    大幅液晶显示屏便于操作和显示测量结果
    典型应用领域
    几乎可以测量金属或非金属基材上的任何一种金属镀层。 甚至可以测量多层镀层.
    测量几乎所有金属镀层厚度,无论基材是金属或非金属,镀层也可以是多镀层。典型的可测量厚度范围 0.05 – 40 µm。 也适用于线材上镀层的测量

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