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日本HIOKI IM3590化学阻抗分析仪能测量电感率ε,导电率σ并追加了可测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,Rdc(直流电阻),X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanσ),Q,T。化学阻抗分析仪IM3590是以电池以及电气双层电容等材料或零件;防腐蚀/电镀等表面处理
日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪测量量程100mΩ~100MΩ,阻抗分析仪IM3570可进行LCR、DCR测量和扫描测量,IM3570阻抗分析仪可测量Z、Y等15种参数
日本日置HIOKI 3506 C测试仪根据BIN的测定区分容量, C测试仪HIOKI 3505测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能,C测试仪HIOKI 3506比测仪和触发器
C测试仪3504-60高速测量2ms,C测试仪3504-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试,C测试仪3504-40记录工具实现高速/低成本的测试;日本日置hioki 3504-60 C测试仪C、D 2项目测试,hioki 3504-50 C测试仪测试源频率:120Hz, 1kHz,hioki 3504-40 C测试仪进行被测物合
日本日置HIOKI IM7580阻抗分析仪测量频率1MHz~300MHz,测量时间:最快0.5ms,IM7580阻抗分析仪丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
LCR测试仪3511-50测试频率120Hz或1kHz,日置HIOKI 3511-50 LCR测试仪5ms快速测量LCR表,LCR测试仪HIOKI 3511-50高精度±0.08%
IM3533-01 LCR测试仪频率扫描测试,日本日置HIOKI IM3533-01 LCR测试仪精度±0.05%,LCR测试仪IM3533-01可提供变压器/线圈的测量,IM3533-01LCR测试仪测量范围DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA
LCR测试仪IM3523测量范围DC,40Hz~200kHz,IM3523 LCR测试仪精度±0.05%,日本日置HIOKI IM3523LCR测试仪2毫秒的快速测试时间
LCR测试仪3532-50精度±0.08%,日置HIOKI 3532-50 LCR测试仪5ms高速测量LCR测量仪,LCR测试仪HIOKI 3532-50测试频率42Hz~5MHz;HIOKI3532-50LCR测试仪可配9140四端子探头和9143针夹型探头
日本HIOKI IM3536 LCR测试仪基本精度±0.05% rdg,LCR测试仪IM3536测量频率DC4Hz~8MHz,IM3536 LCR测试仪1mΩ以上的精度保证范围
日本HIOKI IM7585阻抗分析仪元器件电感、电容、电阻测量,阻抗分析仪IM7585 LCR测试仪测量频率1MHz~1.3GHz,日本日置HIOKI IM7585阻抗分析仪使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
日本HIOKI IM7583阻抗分析仪丰富的接触检查功能DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定,阻抗分析仪IM7583 LCR测试仪测量频率1MHz~600MH,日本HIOKI IM7583阻抗分析仪元器件测量电感、电容、电阻
日本HIOKI IM7581阻抗分析仪测量频率1MHz~300MHz,阻抗分析仪IM7581 LCR测试仪基本精度±0.72%rdg,日本日置HIOKI IM7581阻抗分析仪元器件测量电感、电容、电阻
日本HIOKI IM7580A阻抗分析仪测量频率1MHz~300MHz,阻抗分析仪IM7580A LCR测试仪,IM7580A阻抗分析仪测量时间:最快0.5ms
日本日置HIOKI IM3590化学阻抗分析仪适用于离子运动和溶液电阻测量,IM3590化学阻抗分析仪用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容)
日本日置HIOKI IM3533 LCR测试仪精度±0.05%,LCR测试仪IM3533可提供变压器/线圈的测量,IM3533LCR测试仪DCR进行温度补偿和内部DC偏置测量对测量钽
日本日置HIOKI 3522-50 LCR测试仪DC电阻测量1mHz~100kHz的测试频率,LCR测试仪3522-50高速5ms测量LCR表,LCR测试仪HIOKI 3522-50四端子探头9140和9143针夹型探头
LCR测试仪3535标配了RS-232C和GP-IB接口,日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪拆卸式前置放大器可选择,LCR测试仪HIOKI 3535测试频率100kHz~120MHz

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