ST2263型双电测数字式四探针测试仪测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量，双电测数字式四探针测试仪ST2263型运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻测量仪，苏州晶格ST2263型双电测数字式四探针测试仪测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试

ST2242交流四探针电阻率测试仪是导电凝胶电阻率测试仪对凝胶、溶液、离子导电材料以及不适用于直流测试样品的导电性能的测试，交流四探针电阻率测试仪ST2242导电凝胶导电悬浊液导电离子介质电阻率测试仪，ST2242交流四探针电阻率测试仪离子导电物质（如电解质溶液、导电凝胶）和导电粉体悬浊液（如碳粉、石墨烯粉体浆料）设计的电阻率测试仪器

ST2241型接地电阻土壤电阻率测试仪接地电阻、土壤电阻率、接地电压、交流电压测量，接地电阻土壤电阻率测试仪ST2241型现场测量接地电阻、土壤电阻率、接地电压、交流电压的接地系统勘察、验收综合测试仪器，苏州晶格ST2241型接地电阻土壤电阻率测试仪符合国标GB/T 17949.1-2000《接地系统的土壤电阻率、接地阻抗和地面电位测量导则1部分：常规测量》

苏州晶格ST2742B型四探针法电动粉末电阻率测试仪同步压力连续测试粉末“ 电阻率-压强曲线，四探针法电动粉末电阻率测试仪ST2742B型可一边加压一边同步测试电阻率，可方便测绘粉末样品 “电阻率-压强”的性能曲线，苏州晶格ST2742B型四探针法电动粉末电阻率测试仪符合新GBT30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A. S . T .M 标准。

ST2722-SD型半导体粉末电阻率测试仪四端子法测试台符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有关国标和行业标准，苏州晶格半导体粉末电阻率测试仪ST2722-SD型可以增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪，ST2722-SD型半导体粉末电阻率测试仪四端子法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线

苏州晶格ST2722-SZ型四探针法粉体粉末电阻率测试仪是半导体粉末电阻率测量仪器，四探针法粉体粉末电阻率测试仪ST2722-SZ型增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪，ST2722-SZ四探针法粉体粉末电阻率测试仪符合符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。

广州四探针科技RTS-7型二探针测试仪按照国家标准及美国材料与试验协会（ASTM）SEMI MF397-1106（二探针法测定硅棒电阻率的标准方法，广州四探针二探针测试仪RTS-7型专用于测试半导体材料纵向电阻率的仪器，统计分析测试数据并生成纵向分布图，RTS-7型二探针测试仪电阻率测量范围：0.00001～100000Ω·cm

广州四探针科技SRM-232型方块电阻测试仪测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻，广州四探针方块电阻测试仪SRM-232型四种型号：SRM-232-10、SRM-232-100、SRM-232-1000、SRM-232-200