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日置HIOKI LCR测试仪-HIOKI日置LCR表

日置HIOKI LCR测试仪-HIOKI日置LCR表

LCR测试仪IM3536
宽频率范围的LCR非常适用于研发和评估不同工作频率范围下压电元器件和线圈等的谐振频率。推荐用于评估压电元件和线圈的共振频率。若使用应用软件※则能够简单的对频率、电压和电流进行扫描和测量。
可变频率:DC, 4 Hz〜8 MHz
电压可变:10 mV〜5 V(V模式/CV模式)
电流可变:10 μA〜100 mA(CC模式)
4端子测量时,预先设置判断测试端与被测物的接触状态。 测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻,并在超过所设阈值时发出报警信号。

LCR测试仪IM3523
基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
为了使用1台LCR测试仪测量多种产品,要求高效率的更改设置。
IM3523的面板保存功能更,最多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。
使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

LCR测试仪IM3533测量方法:线圈匝数比的测量
在变压器、线圈测量中,可以运算并显示初级和次级的L测量、线圈匝数比。彻底消除之前需要手动计算的麻烦。
基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。
在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度是我司以往产品的10倍。
内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。
(测量速度是以往产品3522-50的10倍,大大提高了反复性和稳定性)
专用模式,用于测量变压器线圈比率,互感系数和温度补偿DCR。


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