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ST2263型双电测数字式四探针测试仪测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量,双电测数字式四探针测试仪ST2263型运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻测量仪,苏州晶格ST2263型双电测数字式四探针测试仪测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试
ST2242交流四探针电阻率测试仪是导电凝胶电阻率测试仪对凝胶、溶液、离子导电材料以及不适用于直流测试样品的导电性能的测试,交流四探针电阻率测试仪ST2242导电凝胶导电悬浊液导电离子介质电阻率测试仪,ST2242交流四探针电阻率测试仪离子导电物质(如电解质溶液、导电凝胶)和导电粉体悬浊液(如碳粉、石墨烯粉体浆料)设计的电阻率测试仪器
ST2241型接地电阻土壤电阻率测试仪接地电阻、土壤电阻率、接地电压、交流电压测量,接地电阻土壤电阻率测试仪ST2241型现场测量接地电阻、土壤电阻率、接地电压、交流电压的接地系统勘察、验收综合测试仪器,苏州晶格ST2241型接地电阻土壤电阻率测试仪符合国标GB/T 17949.1-2000《接地系统的土壤电阻率、接地阻抗和地面电位测量导则1部分:常规测量》
苏州晶格ST2742B型四探针法电动粉末电阻率测试仪同步压力连续测试粉末“ 电阻率-压强曲线,四探针法电动粉末电阻率测试仪ST2742B型可一边加压一边同步测试电阻率,可方便测绘粉末样品 “电阻率-压强”的性能曲线,苏州晶格ST2742B型四探针法电动粉末电阻率测试仪符合新GBT30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范,参照GB/T1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A. S . T .M 标准。
ST2722-SD型半导体粉末电阻率测试仪四端子法测试台符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有关国标和行业标准,苏州晶格半导体粉末电阻率测试仪ST2722-SD型可以增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪,ST2722-SD型半导体粉末电阻率测试仪四端子法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线
苏州晶格ST2722-SZ型四探针法粉体粉末电阻率测试仪是半导体粉末电阻率测量仪器,四探针法粉体粉末电阻率测试仪ST2722-SZ型增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪,ST2722-SZ四探针法粉体粉末电阻率测试仪符合符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范,参照GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。
广州四探针科技RTS-7型二探针测试仪按照国家标准及美国材料与试验协会(ASTM)SEMI MF397-1106(二探针法测定硅棒电阻率的标准方法,广州四探针二探针测试仪RTS-7型专用于测试半导体材料纵向电阻率的仪器,统计分析测试数据并生成纵向分布图,RTS-7型二探针测试仪电阻率测量范围:0.00001~100000Ω·cm
广州四探针科技SRM-232型方块电阻测试仪测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻,广州四探针方块电阻测试仪SRM-232型四种型号:SRM-232-10、SRM-232-100、SRM-232-1000、SRM-232-200
广州四探针科技ST-20掌上型方块电阻测试仪专门测量半导体薄层电阻(面电阻),广州四探针掌上型方块电阻测试仪ST-20特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜,ST-20掌上型方块电阻测试仪测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
广州四探针科技ST-21L型方块电阻测试仪依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,广州四探针方块电阻测试仪ST-21L型特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜,ST-21L型方块电阻测试仪测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
广州四探针科技ST-21H型方块电阻测试仪特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜 探头带抗静电模块,ST-21H型方块电阻测试仪国家标准和美国A.S.T.M标准,方块电阻测试仪ST-21H型测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
ST-21型方块电阻测试仪广州四探针科技厂家生产,ST-21型方块电阻测试仪专门测量半导体薄层电阻(表面电阻),ST-21型方块电阻测试仪测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
HTS-110型金属四探针温控测试系统,HTS-110型金属四探针温控测试系统,HTS-110型金属四探针温控测试系统
HTS-100型四探针温控测试系统广州四探针科技厂家生产,HTS-100型四探针温控测试系统国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准,广州四探针HTS-100型四探针温控测试系统用于材料在不同温度时导电性能的评估和测试,分析被测样品电阻率、方块电阻、电阻随温度变化的数据和曲线
RTS-3型手持式四探针测试仪广州四探针厂家生产,RTS-3型手持式四探针测试仪专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻,RTS-3型手持式四探针测试仪用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试
RTS-2型便携式四探针测试仪RTS-2A广州四探针厂家生产,RTS-2型便携式四探针测试仪RTS-2A用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。,RTS-2型便携式四探针测试仪RTS-2A测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻
RTS-11型金属四探针测试仪广州四探针科技有限公司生产,金属四探针测试仪RTS-11型测试低阻金属材料电阻率及方块电阻,RTS-11型金属四探针测试仪
RTS-5型双电测四探针测试仪广州四探针科技公司生产,广州四探针双电测四探针测试仪RTS-5型电阻率:0.0001~2000Ω·cm(可扩展),RTS-5型双电测四探针测试仪采用双电测测试标准,通过RTS-5双电测测试软件控制四探针测试仪进行测量并实时采集两次组合模式下的电压值,然后根据双电测测试原理公式计算出电阻值。
RTS-9型双电测四探针测试仪广州四探针科技公司生产,双电测四探针测试仪RTS-9 采用双电测测试标准,通过RTS-9双电测测试软件控制四探针测试仪进行测量并实时采集两次组合模式下的电压值,然后根据双电测测试原理公式计算出电阻值,广州四探针科技RTS-9型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法
RTS-4型数字式四探针测试仪广州四探针科技公司生产,RTS-4型数字式四探针测试仪家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻),广州四探针数字式四探针测试仪RTS-4适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试

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