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ST-20掌上型方块电阻测试仪
是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
ST-20掌上型方块电阻测试仪性能
采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗。
采用单个电池供电，带电池欠压指示，探头带抗静电模块
体积仅为：130mmX65mm X23mm
特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
ST-20掌上型方块电阻测试仪技术参数
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测量范围
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基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口) 扩展量程：方块电阻100-1999(Ω/口) |
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测量不确定度
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≤5% |
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探针规格
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探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ |
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恒流源
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测量过程误差：≤±0.8% |
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电源
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9V叠层电池1节 |
