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广州四探针科技ST-21H型方块电阻测试仪特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜 探头带抗静电模块,ST-21H型方块电阻测试仪国家标准和美国A.S.T.M标准,方块电阻测试仪ST-21H型测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
ST-21型方块电阻测试仪广州四探针科技厂家生产,ST-21型方块电阻测试仪专门测量半导体薄层电阻(表面电阻),ST-21型方块电阻测试仪测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
HTS-110型金属四探针温控测试系统,HTS-110型金属四探针温控测试系统,HTS-110型金属四探针温控测试系统
HTS-100型四探针温控测试系统广州四探针科技厂家生产,HTS-100型四探针温控测试系统国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准,广州四探针HTS-100型四探针温控测试系统用于材料在不同温度时导电性能的评估和测试,分析被测样品电阻率、方块电阻、电阻随温度变化的数据和曲线
RTS-3型手持式四探针测试仪广州四探针厂家生产,RTS-3型手持式四探针测试仪专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻,RTS-3型手持式四探针测试仪用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试
RTS-2型便携式四探针测试仪RTS-2A广州四探针厂家生产,RTS-2型便携式四探针测试仪RTS-2A用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。,RTS-2型便携式四探针测试仪RTS-2A测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻
RTS-11型金属四探针测试仪广州四探针科技有限公司生产,金属四探针测试仪RTS-11型测试低阻金属材料电阻率及方块电阻,RTS-11型金属四探针测试仪
RTS-5型双电测四探针测试仪广州四探针科技公司生产,广州四探针双电测四探针测试仪RTS-5型电阻率:0.0001~2000Ω·cm(可扩展),RTS-5型双电测四探针测试仪采用双电测测试标准,通过RTS-5双电测测试软件控制四探针测试仪进行测量并实时采集两次组合模式下的电压值,然后根据双电测测试原理公式计算出电阻值。
RTS-9型双电测四探针测试仪广州四探针科技公司生产,双电测四探针测试仪RTS-9 采用双电测测试标准,通过RTS-9双电测测试软件控制四探针测试仪进行测量并实时采集两次组合模式下的电压值,然后根据双电测测试原理公式计算出电阻值,广州四探针科技RTS-9型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法
RTS-4型数字式四探针测试仪广州四探针科技公司生产,RTS-4型数字式四探针测试仪家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻),广州四探针数字式四探针测试仪RTS-4适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试
RTS-8型数字式四探针测试仪广州四探针科技公司生产,广州四探针科技RTS-8型数字式四探针测试仪恒流源电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档,数字式四探针测试仪RTS-8国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计
RTS-1345型全自动四探针测试系统广州四探针科技公司生产对样品进行单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的全自动测试,全自动四探针测试系统RTS-1345型测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻),广州四探针RTS-1345型全自动四探针测试系统由主机、测试台、四探针探头、真空泵、屏蔽罩、计算机等部分组成
广州四探针科技 RTS-1389型全自动四探针测试系统直接观察到整个晶圆片的电阻率或方块电阻大小的分布,全自动四探针测试系统 RTS-1389型可对样品进行49点、81点、中心1点、中心10点、中心半径5点、中心边缘5点、中心半径边缘9点、直径扫描等测试;统计分析测试数据生成2D和3D的map图, RTS-1389型全自动四探针测试系统国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计
FT-8100A四探针法粉末电导率测试仪FT-8100B四点探针测试仪参照GB/T 1551、GB/T1552-1995,ASTM F84美国A.S.T.M 标准;FT-8100A四探针法粉末电导率测试仪FT-8100B参照GBT30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作.锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料电阻率的测量;FT-8100A四探针法粉末电导率测试仪FT-8100B也应用于需要采用四探针法测量的导体或半导体粉末材料的分析与检测;也常用于石墨类粉状材料电阻率的测量;
SCX7633电线电缆导体电阻率测试仪配合适的米夹具可测量φ0.02mm-φ42mm的线材、棒材之电阻、电阻率、电导率,SCX7633电线电缆导体电阻率测试仪自动双向电流测试, 同时脉冲式的测试方式避免了测试回路产生热量影响测试精度,测试电缆电阻率时无需进行多种电流的测试;电线电缆导体电阻率测试仪SCX7633可用于电线电缆、分流器、金属、导体等各种超低直流电阻/电阻率测试。也可测量各种开关接触电阻;接插件接触电阻;继电器线包和触点电阻;变压器、电感器、电机、偏转线圈绕线电阻(感性负载请选用单向电流模式测试);导线电阻;车、船、飞机的金属铆接电阻;印制板线条和孔化电阻等。
SCX7630电线电缆导体电阻率测试仪测试范围0.01uΩ-10MΩ;最大测试电流10A;选配米夹具可测量线缆电阻率,电线电缆导体电阻率测试仪SCX7630选配合适的米夹具可测量φ0.02mm-φ42mm的线材、棒材之电阻、电阻率、电导率,SCX7630电线电缆导体电阻率测试仪可用于电线电缆、分流器、金属、导体等各种超低直流电阻/电阻率测试。也可测量各种开关接触电阻;接插件接触电阻;继电器线包和触点电阻;变压器、电感器、电机、偏转线圈绕线电阻(感性负载请选用单向电流模式测试);导线电阻;车、船、飞机的金属铆接电阻;印制板线条和孔化电阻等。
SCX7620电机电阻不平衡度测试仪测试范围:10uΩ-20KΩ;同时测量端电阻/相电阻;可计算电机电阻不平衡度与极差,SCX7620电机电阻不平衡度测试仪测量三相电机电阻不平衡度、极差的高精度测试仪,电机电阻不平衡度测试仪SCX7620其0.05%的基本精度、10uΩ的最小分辨率可以满足大部分三相电机的电阻测试需求.本仪器还可同时显示三相电机的端电阻与相电阻,方便用户对电机的不平衡度/极差等参数进行评估测试与分选
SCX3525多路电阻测试仪测试范围:1uΩ-2MΩ;最小分辨率:1uΩ;最高电阻精度:0.02 %;SCX3525多路电阻测试仪测试通道数:4路、8路、16路;多路电阻测试仪SCX3525四端子法测试继电器线包和触点电阻;变压器、电感器、电机、偏转线圈绕线电阻;线圈电阻、分流器电阻、系列膜电阻、导线电阻;车、船、飞机的金属铆接电阻;保险丝、电阻器、导电橡胶的直流电阻、印制板线条和孔化电阻等直流低电阻。仪器广泛用于研究开发、生产线、进料检测等大部分场所。
SCX3526多路电阻测试仪测试范围:1uΩ-2MKΩ;最小分辨率:1uΩ;SCX3526多路电阻测试仪测量各种开关接触电阻;继电器线包和触点电阻;变压器、电感器、电机、偏转线圈绕线电阻;线圈电阻、分流器电阻、系列膜电阻、导线电阻;多路电阻测试仪YD3526测试通道数:8路、16路、32路、64通道
SCX7166四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:10uΩ-1MΩ;方阻测试范围: 10uΩ/□-1MΩ/□;SCX7166四探针方块电阻率测试仪也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,四探针方块电阻率测试仪SCX7166适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头,可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.

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泰克Tektronix AFG1022任意波形函数发生器AFG1062泰克25MHz 或 60MHz 带宽,2 个输出通道,在整个带宽内 1mVpp 到 10Vpp 输出振幅
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常州欣阳电线电缆导体电阻率测试仪CXT5510电线电缆、分流器、金属、导体等各种超低直流电阻/电阻率测试,常州欣阳电线电缆导体电阻率测试仪CXT5510电阻、电阻率、电导率同步测试,欣阳CXT5510电线电缆导体电阻率测试仪测试范围0.01uΩ-10MΩ;最大测试电流10A
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