紫外交联仪UCL-3500是一款大功率、完整的、微处理器控制的紫外线照射系统，主要用于将核酸连接到膜和消除 PCR 污染。可编程微处理器持续监控紫外光发射，UCL-3500紫外交联仪安装有铝合金UV 辐照室和铝漫反射板，紫外辐照腔体内的辐照强度均匀。位于辐照腔体上方的紫外传感器安装有石英玻璃，保护传感器不受化学品污染。
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美国KrautKramer GE DM5E超声波测厚仪测量范围0.6～508mm,超声波测厚仪DM5E腐蚀测厚仪提供Dual-Multi模式,美国Watgate DM5E测厚仪穿过涂层的操作模式在被测物表面有油漆时无需去除油漆而测量材料的净厚度
日置HIOKI BT4560电池阻抗分析仪同时测量阻抗和电压,日本日置HIOKI BT4560电池阻抗测试仪在3mΩ量程下测试电流为1.5A,电池阻抗测试仪BT4560通过低频AC-IR测量
SCX7160四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:100uΩ-100KΩ，SCX7160四探针方块电阻率测试仪方阻测试范围: 100uΩ/□-100KΩ/□，电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸，四探针方块电阻率测试仪SCX7160是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻；适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
