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吉时利Keithley 707B半导体开关系统/泰克tektronix 708B半导体器件的高速和低电流要求高质量、高性能的I-V和C-V信号开关
ST2263型双电测数字式四探针测试仪测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量，双电测数字式四探针测试仪ST2263型运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻测量仪，苏州晶格ST2263型双电测数字式四探针测试仪测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试
