产品详情
Products Center
New Products
推荐产品
Our Products
ST2722-SD型半导体粉末电阻率测试仪四端子法测试台符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有关国标和行业标准，苏州晶格半导体粉末电阻率测试仪ST2722-SD型可以增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪，ST2722-SD型半导体粉末电阻率测试仪四端子法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线
RTS-1345型全自动四探针测试系统广州四探针科技公司生产对样品进行单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的全自动测试，全自动四探针测试系统RTS-1345型测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)，广州四探针RTS-1345型全自动四探针测试系统由主机、测试台、四探针探头、真空泵、屏蔽罩、计算机等部分组成
TT230测厚仪测量范围0-1250um,北京时代之峰科技有限公司TT230涂层测厚仪TT230,TT230测厚仪,时代TT230,涂层测厚仪TT230采用了电涡流测厚法的膜厚仪,北京时代TT230覆层测厚仪配有标准片
是德Keysight 34970A数据采集/数据记录仪开关单元由一个3 插槽主机和一个内置的6 1/2 位数字万用表组成,是德34970A数据采集/数据记录仪模块具有内置的热电偶参考和 20个2线通道
