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全自动显微硬度计AHVST-1000ZXY主要用于测量微小、薄型试件、脆硬件的测试，全自动显微维氏硬度计 AHVST-1000ZXY通过选用各种附件或者升级各种结构可广泛的用于各种金属(黑色金属、有色金属、铸件、合金材料等)、金属组织、金属表面加工层、电镀层、硬化层(氧化、各种渗层、涂镀层)、热处理试件、碳化试件、淬火试件、相夹杂点的微小部分，玻璃、玛瑙、人造宝石、陶瓷等脆硬非金属材料的测试。尤其适用于大批量测量工件的硬度梯度分布曲线，和指定部位的硬度测试。
广州四探针科技ST-20掌上型方块电阻测试仪专门测量半导体薄层电阻(面电阻)，广州四探针掌上型方块电阻测试仪ST-20特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜，ST-20掌上型方块电阻测试仪测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
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