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SCX7168四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:1uΩ-100MΩ;方阻测试范围: 1uΩ/□-100MΩ/□，SCX7168四探针方块电阻率测试仪最高电阻精度0.05 %；电阻最小分辨1uΩ，最高方阻精度：3 %；方阻最小分辨1uΩ，四探针方块电阻率测试仪SCX7168适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
日本日置HIOKI 3239数字万用表四端子测量电阻,数字万用表HIOKI 3239-01采样速率高达300次/s,数字万用表HIOKI 3239AC/DC电流及频率测量功能,HIOKI 3239-01数字万用表一级代理商现货供应
HIOKI LR8410-30无线数据记录仪可测量并采集最多105ch的数据,日本日置HIOKI LR8410-30无线数据记录仪可配无线电压温度单元LR8510/LR8511
