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同惠LCR测试仪TH2840A精密LCR数字电桥TH2840B

 

产品详情

TH2840A精密LCR数字电桥,LCR测试仪TH2840B

TH2840B测试频率: 20Hz- 2MHz
TH2840A测试频率: 20Hz-500kHz
高稳定性和一致性: 14个量程配置
高功率:信号电平: 20VAC /100mAAC
内置直流偏置:土40VDC/100mADC
内置电流源:士2A
DCR电平: 20VDC/100mADC
高速度:测试速度高达0.56ms ( 1800次/秒)
高分辨: 10.1英寸,分辨率1280*800,电容式触摸屏
点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
四参数测量
201.点多参数列表扫描功能
图形扫描功能,4轨迹任意选择,支持1/2/4分屏.
分选功能: LCR模式10档分选
高兼容性:支持SCP IMODBUS指令集,
兼容KEYSIGHT E4980A、 E4980AL、 HP4284A

TH2840A精密LCR数字电桥TH2840B技术参数

产品型号

TH2840A

TH2840B


显示

显示器

10.1英寸电容触摸屏

比例

16:9

分辨率

1280×RGB×800


测量参数

方式

四参数任意选择

AC

Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC

DC

RDC、VDC、IDC







测试频率

范围

20Hz-500kHz

20Hz-2MHz

精度

0.01%





分辨率

0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz)

1mHz (100.000Hz-999.999Hz)

10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz)

100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz )

1Hz (100.000kHz-999.999kHz)

10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz)


AC测试信号模式

额定值(ALC OFF)

设定电压为测试端开路时Hcur电压

设定电流为测试端短路时从Hcur流出电流

恒定值(ALC ON)

保持DUT上电压与设定值相同

保持DUT上电流与设定值相同










测试电平

电压范围

5mVrms-20Vrms

F≤1MHz 5mVrms-20Vrms

F>1MHz 5mVrms-15Vrms

准确度

±(10%×设定值+2mV)(AC≤2Vrms)

±(10%×设定值+5mV)(AC>2Vrms)




分辨率

1mVrms(5mVrms-0.2Vrms)

1mVrms(0.2Vrms-0.5Vrms)

1mVrms(0.5Vrms-1Vrms)

10mVrms(1Vrms-2Vrms)

10mVrms(2Vrms-5Vrms)

10mVrms(5Vrms-10Vrms)

10mVrms(10Vrms-20Vrms)

电流范围

50μArms-100mArms



分辨率(100Ω内阻)

10μArms (50μArms-2mArms)

10μArms (2mArms-5mArms)

10μArms (5mArms-10mArms)

100μArms (10mArms-20mArms)

100μArms (20mArms-50mArms)

100μArms (50mArms-100mArms)



RDC测试

电压范围

100mV-20V

分辨率

1mV(0V-1V)

10mV(1V-20V)

电流范围

0mA-100mA

分辨率

10μA(0mA-10mA)

100μA(10mA-100mA)




DC偏置

电压范围

0V-±40V

准确度

AC≤2V 1%×设定电压+5mV

AC>2V 2%×设定电压+8mV

分辨率

1mV(0V-1V)

10mV(±1V- ±40V)

电流范围

0mA-±100mA

分辨率

10μA(0mA-10mA)

100μA(10mA-100mA)

内置电流源

电流范围

0mA-2A

准确度

I>5mA ±(2%×设定值+2mA)

分辨率

1mA

测试端配置

四端对

测试电缆长度

0m、1m、2m、4m

输出阻抗

30Ω,±4%@1kHz

100Ω,±2%@1kHz

数学运算

与标称值的绝对偏差Δ,与标称值的百分比偏差Δ%

等效方式

串联、并联

校准功能

开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD

测量平均

1-255次

量程选择

自动AUTO、手动HOLD

量程配置

LCR

100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ

RDC

1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ


测量时间(ms)

快速+:0.56ms

快速:3.3ms

中速: 90ms

慢速: 220ms

最高准确度

0.05%(具体参考说明书)

测量显示范围

Cs、Cp

0.00001pF-9.99999F

Ls、Lp

0.00001μH-99.9999kH

D

0.00001-9.99999

Q

0.00001-99999.9

R、Rs、Rp、X、Z、RDC

0.001mΩ-99.9999MΩ

G、B、Y

0.00001μs-99.9999S

VDC

±0V-±999.999V

IDC

±0A-±999.999A

θr

-3.14159-3.14159

θd

-179.999°-179.999°

Δ%

±(0.000%-999.9%)




多功能参数列表扫描

点数

201点,每个点可设置平均次数,每个点可单独分选

参数

测试频率、AC电压、AC电流、DC BIAS电压、DC BIAS电流(100mA)、DC BIAS电流(2A)


触发模式

顺序SEQ:当一次触发后,在所有扫描点测量,/EOM/INDEX只输出一次

步进STEP:每次触发执行一个扫描点测量,每点均输出/EOM/INDEX,但列表扫描比较器结果只在最后的/EOM才输出

其他特点

1.扫描参数与测试参数都有多种复制功能

2.每个扫描点均可设置延时

比较器

每个扫描点最多可测量四个测试参数,每个参数均可设置上下限,所有测试参数都合格输出PASS信号,否则输出FAIL信号,未设上下限则不判断





图形扫描

扫描点数

51、101、201、401、801点可选

结果显示

每个参数的极值以及光标所在点的扫描参数值与对应的测试参数值

扫描轨迹

1-4个测试参数任意选择,扫描曲线可以一分屏、二分屏、四分屏

显示范围

实时自动、锁定

坐标标尺

对数、线性

扫描参数

频率、AC电压、AC电流、DCV BIAS / DCI  BIAS(100mA) / DCI  BIAS(2A)

触发方式

单次

手动触发一次,从起点到终点一次扫描完成,下个触发信号启动新一次扫描

连续

从起点到终点无限次循环扫描

结果保存

图形、文件




比较器

Bin分档

10Bin、PASS、FAIL

Bin偏差设置

偏差值、百分偏差值、关

Bin模式

容差、连续

Bin计数

0-99999

档判别

每档最多可设置四个参数极限范围,四个测试参数结果设档范围内显示对应档号,超出设定最大档号范围则显示FAIL,未设置上下限的测试参数自动忽略档判别

PASS/FAIL指示

满足Bin1-10,前面板PASS灯亮,否则FAIL灯量

数据缓存

201个测量结果可分批读取

存储调用

内部

约100M非易失存储器测试设定文件

外置USB

测试设定文件、截屏图形、记录文件

键盘锁定

可锁定前面板按键,其他功能待扩充





接口

USB HOST

2个USB HOST接口,可同时接鼠标、键盘,U盘同时只能使用一个

USB DEVICE

通用串行总线插座,小型B类(4个接触位置);与USB TMC-USB488和USB2.0相符合,阴接头用于连接外部控制器。

LAN

10/100M以太网自适应

HANDLER

用于Bin分档信号输出

外部DC BIAS控制

支持TH1778A

RS232C

标准9针,交叉

RS485

可以接受改制或外接RS232转RS485模块

开机预热时间

60分钟

输入电压

100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz

功耗

不小于130VA

尺寸(WxHxD)mm3

430x177x265

重量(kg)

11kg

标配
配件名称 型号
带盒四端绝缘带锁Kelvin测试线 TH26011BS
夹具 TH26048
短路片 TH26010

应用
■ 无源元件:
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
■ 半导体元件:
LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件:
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
■ 介质材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料:
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料:
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性



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