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时代TT210FN涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法测厚仪,两用涂层测厚仪TT210FN涂镀层测厚仪测量范围0~1250um,北京时代TT210FN测厚仪可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度
CJ-HLC200Z空气粒子计数器三通道同时测量,固定通道0.3/0.5,可调通道0.7/1/3/5/10um,川嘉电子CJ-HLC200Z空气粒子计数器通讯接口USB2.0/COM串口；
日本日置HIOKI IM3590化学阻抗分析仪测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容),化学阻抗分析仪HIOKI IM3590实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检,HIOKI日置IM3590化学阻抗分析仪适用于Cole-Cole图、等效电路分析等电器化学零件和材料的电阻(LCR)测量
