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日本HIOKI DT4211数字万用表平均有效值测量,数字万用表DT4211-30万用表配测试线L9206,日置DT4211数字万用表可测量AC/DC电压/DC/AC电流/连续检查/导通检查/电阻/电容/温度和频率等
ST2722-SD型半导体粉末电阻率测试仪四端子法测试台符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有关国标和行业标准，苏州晶格半导体粉末电阻率测试仪ST2722-SD型可以增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪，ST2722-SD型半导体粉末电阻率测试仪四端子法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线
日本日置HIOKI 9140-10四端子测试探头是LCR测试仪用测试夹具;4端子探头HIOKI 9140-10可用于LCR测试仪3522-50,3532-50,3511-50,IM3536,IM3523,IM3533
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