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SCX7166四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:10uΩ-1MΩ;方阻测试范围: 10uΩ/□-1MΩ/□；SCX7166四探针方块电阻率测试仪也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，四探针方块电阻率测试仪SCX7166适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
