产品详情
TT230测厚仪采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)。它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
涂层测厚仪TT230测量步骤:
将测头置于开放空间,按一下“ON/C”键,开机;迅速将测头与测试面垂直地接触并轻轻压住,随着一声鸣响,屏幕显示测量值,提起测头可进行下次测量;如果在测量中测头放置不稳,显示一个明显的可疑值,可在“DEL ONE?”状态删除该值;重复测量三次以上,在“DIS STATS?” 状态,tt230可依次显示五个统计值,即:平均值(MEAN)、最大测量值(MAX)、最小测量值(MIN)、测量次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)。
关机:在无任何操作的情况下,大约 2~3min 后仪器自动关机。
TT230主要功能
可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式和成组方式;
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
具有打印功能,可打印测量值、统计值;
具有欠压指示功能;
操作过程有蜂鸣声提示;
具有错误提示功能;
具有自动关机功能。
时代TT230技术参数:
测头类型 |
N |
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测量原理 |
电涡流 |
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测量范围 |
0-1250um/0-40um(铜上镀铬) |
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低限分辨力 |
1µm(10um以下为0.1um) |
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探头连接方式 |
一体化 |
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示值误差 |
一点校准(um) |
±[3%H+1.5] |
两点校准(um) |
±[(1%~3%)H+1.5] |
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测量条件 |
最小曲率半径(mm) |
凸3 凹10 |
基体最小面积的直径(mm) |
ф5 |
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最小临界厚度(mm) |
0.3 |
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温湿度 |
0~40℃ |
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统计功能 |
平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、 |
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工作方式 |
直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) |
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测量方式 |
连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) |
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上下限设置 |
无 |
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存储能力 |
15 个测量值 |
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打印/连接计算机 |
可选配打印机/不能连接电脑 |
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关机方式 |
自动 |
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电源 |
二节3.6V镍镉电池 |
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外形尺寸 |
150×55.5×23mm |
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重量 |
150g |
本仪器符合以下标准:
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
TT230测厚仪标配:
主机
标准片一套
充电器
可选配TA230打印机
测厚仪TT230有两种测量中使用的校准方法,零点校准;二点校准;还有一种针对测头的基本校准。
零点校准
在基体上进行一次测量,仪器显示<×.×μm>。
按一下“ON/C”键,屏显<0.00μm>即完成零点校准。
要准确地校准零点,须重复上述a、b 以获得基体测量值小于1μm,这样有利于提高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。
二点校准
先校零点(见上)。
在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量,屏幕显示<×××μm>。
用▲或▼键修正读数,使其达到标准片上的标称值。校准已完成,可以开始测量了。
注意:即使显示结果与标准片值符合,按▲、▼键也是必不可少的,例如按一次▲键一次▼键。如欲较准确地进行二点校准,可重复 b、c 过程,以提高校准的精度,减少偶然误差。
打印功能:
单次打印──与单次测量方式相对应,每测量一次,打印一个测量值。
操作方式是:在单次测量方式下,按“MODE”键直至屏幕显示按“ON/C”键确认后,屏幕显示此后,每次测量都将打印。若要放丢打印,在“PRT ONE?”状态下,按▲或▼键即可。
连续打印──连续打印既适用于单次测量方式也适用于连续测量方式,内存中的全部测量值及统计值一并打印输出。操作方法是:按“MODE”键直至屏幕显示同时打印输出内存中的所有测量值及统计值。若要放弃打印,在“PRTALL?”状态下,按▲或▼键即可。
打印机与本仪器的连接:
只有本公司开发设计的打印机可与本仪器连接,进行打印工作。将打印连线一头接打印机,另一头接本仪器,打开打印机电源,按上述方法操
作即可。关于“MODE”键
按住“MODE”键不松开,各状态提示将依次出现
TT230操作方法
测量方式(单次测量⇔连续测量):
单次测量方式──测头每接触被测件 1 次,随着一声鸣响,显示测量结果。如若再测量,须提起测头离开被测件,然后再压下测头。
连续测量方式──不提起测头测量,测量过程中不伴鸣响,显示屏连续显示测量结果。
两种方式的转换方法是:在关机状态下,按住“MODE”键后,再按“ON/C”键,随着一声鸣响,转换完成。单次测量方式,屏幕显示如下:连续测量方式,屏幕显示如下:
工作方式(直接方式⇔成组方式):
直接(DIRECT)方式──此方式用于随意性测量,tt230测量值暂存在内存单元(共有15 个存贮单元)。当存满15 个存贮单元,新的测量值将替掉旧测量值,并且参与统计计算的数值,总是最新的15 个数据;
成组方式(BATCH)──此方式便于用户分批记录所测试的数据,一组最多15 个数值,每当存满一组(15 个)数据,屏幕将显示此时可用“PRINT ALL?”打印出该组数值及其统计计算值。用“DELALL?”删除该组数据,否则不能进行新的测量。成组方式避免了直接方式下新值替旧值的随意性。
两种方式的转换方法是:
按“MODE”键直至屏幕显示按“ON/C”键确认后,屏幕显示进入直接方式。
按“MODE”键直至屏幕显示按“ON/C”键确认后,屏幕显示进入成组方式。
删除:
删除当前值:当前测量结果如果出现较大误差,且不希望此结果进入统计计算,可按“MODE” 键,直至屏幕提示此时,按“ON/C”键即可将此数据删除(如果不想删除,在“DEL ONE?”状态下,按▲或▼键即可)。
删除全部数据:如果要删除内存中的全部数据以便进行新一轮测量,
可按“MODE”键,直至屏幕提示
此时,按“ON/C”键即可将内存全部数据删除(如果不想删除,在“DEL
ALL?”状态下,按▲或▼键即可)。
统计计算:
只要有 3 个测量值,即可进行统计计算。操作方法是:重复测量3 次以上,
按“MODE”键直至屏幕显示
按▲或▼键,平均值(MEAN)、最大测量值(MAX)、最小测量值(MIN)、
测量次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)可依次显示。
若要回到测量状态,按“MODE”键或“ON/C”键即可。