QuaNix8500涂层测厚仪

QuaNix8500涂层测厚仪可选探头：
 　Fe铁基探头： 0－2000μm 0－5000μm
 　NFe非铁基探头: 0－2000μm 0－5000μm
   NFe/Fe两用探头：0－2000μm 0－5000μm
 　无线传输探头
 　薄镀层探头
QuaNix8500涂层测厚仪技术参数：
基 体:Fe、NFe、NFeNFe
探头形式:一体、有线分体、无线分体
显 示:LCD液 晶 显 示
测量范围:
0－2000μm
0－5000μm
测量精度:
0－2000μm： ≤±2％
2000－5000μm：≤±3％
最小基体:Fe：10mm×10mm NFe：6mm×6mm
最薄基体:Fe：0.2mm NFe：0.05mm
最小曲率:凸半径：5mm 凹半径：30mm
存 储:一个数据组，1000个测量值
数据传输:通过USB模块和电脑无线传输
统计功能:平均值，最大值，最小值，标准偏差
储存温度:－10℃ －－－ 60℃
温度补偿范围:0℃ －－－ 60℃
电 源:2节1.5V干电池
尺 寸:124mm×67mm×33mm
重 量:120g（含电池及探头）
QuaNix8500涂层测厚仪优点：
   只需调零，无需校准
   测量精度高
   一体分体通用
 　可配多种探头
 　中英文菜单操作
 　智能化
 　带存储，并可连计算机对数据进行处理分析
 　可连接薄镀层探头，对极薄的镀层厚度精确测量，误差小于±3um