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日置HIOKI 3174 AC自动绝缘/耐压测试仪耐压测试最高5kV AC;AC自动绝缘/耐压测试仪3174绝缘抵抗试验最高2000MΩ;AC自动绝缘/耐压测试仪HIOKI3174有检查接触功能和充分远程控制
testo 830-S1红外测温仪测量范围-30~+350°C,红外测温仪testo 830-S1红外线测温仪价格298元,德图testo830-S1测温仪订货号0560 8309
SCX7160四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:100uΩ-100KΩ，SCX7160四探针方块电阻率测试仪方阻测试范围: 100uΩ/□-100KΩ/□，电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸，四探针方块电阻率测试仪SCX7160是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻；适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
CX7220高阻计CX7226测试范围:10KΩ-100PΩ;测试电压0.5-1000V；CX7220、YD7226高阻计绝缘电阻测试范围：10^3Ω-10^17Ω；高阻计CX7220、CX7226集绝缘电阻测试仪、皮安计、数字电位计、数字高压源表， 能够快速测量电子元器件、介质材料、设备和电线电缆等绝缘性能，各种薄膜材料、小晶体、各种纳米材料、防静电绝缘材料等各种材料的高阻、超高阻及微弱电流测量。光伏绝缘材料的绝缘性能、湿漏电测试
