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日置HIOKI LR8450数据采集仪1ms采样率,LR8450-01无线数据采集仪

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SCX7160四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:100uΩ-100KΩ,SCX7160四探针方块电阻率测试仪方阻测试范围: 100uΩ/□-100KΩ/□,电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸,四探针方块电阻率测试仪SCX7160是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻;适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头,可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
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