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HIOKI BT4560电池阻抗测试仪使用说明书
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日本AD-3253B超声波测厚仪测量范围0.8-100.0mm,超声波测厚仪AD-3253B利用超声脉冲发射原理的超声测厚仪,AD-3253B测厚仪用于金属塑料等不同材料的厚度测量和腐蚀检查
SCX7160四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:100uΩ-100KΩ，SCX7160四探针方块电阻率测试仪方阻测试范围: 100uΩ/□-100KΩ/□，电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸，四探针方块电阻率测试仪SCX7160是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻；适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
