测试冶具9261-10

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测试冶具9261-10

线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm

日本日置HIOKI 9261-10测试治具是LCR测试仪用测试夹具;测试治具HIOKI 9261-10可用于LCR测量仪3522-50,3532-50,3511-50,IM3536,IM3533,IM3523

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SCX7160四探针方块电阻率测试仪

SCX7160四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:100uΩ-100KΩ，SCX7160四探针方块电阻率测试仪方阻测试范围: 100uΩ/□-100KΩ/□，电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸，四探针方块电阻率测试仪SCX7160是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻；适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.