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针型测试线L2103
前端笔长138mm, 全长1.5m
日本HIOKI L2103针型测试线配微电阻计RM3545/RM3544
针型测试线L2103针对基板上小孔和微小对象测量,0.2mm平行测量的针型前端探针
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HIOKI L2103针型测试线-HIOKI日置L2103测试线RM3545电阻测试仪
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北京时代D型冲击装置可配TH140/TH160/TH110/HLN-11A里氏硬度计,D型冲击装置测量范围17.9～68.5HRC,170～960）HLD,127～651HB,83～976HV,D型探头是北京时代之峰科技有限公司生产硬度计冲击装置
日本日置HIOKI IM7580A阻抗分析仪测量频率1MHz~300MHz,测量时间：最快0.5ms,IM7580A阻抗分析仪丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
