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红外测温仪HIOKI 3419-20测量范围-35.0～500°C;红外测温仪3419-20测量物体表面温度;日本日置HIOKI 3419-20红外测温仪激光标志
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HIOKI8826存储记录仪32个完全隔离通道存储记录仪;日置HIOKI 8826存储记录仪采样率为1MS/s的高速波形采样测量;存储记录仪8826连入局域网与计算机配合使用
化学阻抗分析仪HIOKI IM3590测量频率1mHz～200kHz,日本日置HIOKI IM3590化学阻抗分析仪适用于离子运动和溶液电阻测量,IM3590化学阻抗分析仪用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容)
