是德Keysight PNA网络分析仪E5061B/E5063A ENA矢量网络分析仪 安捷伦agilent

日本HIOKI FT3470-52磁场测试仪显示单位可选（T，A/m，G）,磁场测试仪FT3470-52标配适合用于空间分布调查的3cm2磁场传感器和符合IEC/EN62233的100cm2的磁场传感器

Chroma 19305绕线元件脉冲测试器脉冲测试高取样率(200MHz)

SCX7160四探针方块电阻率测试仪电阻测试范围:100uΩ-100KΩ，SCX7160四探针方块电阻率测试仪方阻测试范围: 100uΩ/□-100KΩ/□，电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸，四探针方块电阻率测试仪SCX7160是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻；适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.