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稳科wayne kerr WK4100 LCR表1J4110/1J4120/1J4150/1J41100 LCR测试仪基本精度0.1%,1J4110频率范围20Hz~100kHz,1J4120频率范围20Hz~200kHz,1J4150频率范围20Hz~500kHz,1J41100 频率范围20Hz~1MHz
日置HIOKI 3504-40测量频率1kHz/120Hz的C测试仪高速测量2ms,C测试仪3504-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试,C测试仪3504-40D记录工具实现高速/低成本的测试;日本日置hioki 3504-60 C测试仪C、D 2项目测试,hioki 3504-50 C测试仪测试源频率:120Hz, 1kHz,hioki 3504-40D进行被测物合
日本日置HIOKI 3532-50 LCR测试仪测试频率42Hz～5MHz;LCR测试仪HIOKI 3532-50是高精度LCR测量仪;HIOKI 3532-50 LCR测试仪可配针型测试探头HIOKI 9143和4端子测试探头HIOKI 9140,HIOKI3532-50 LCR测试仪一级代理商提供大量现货
